选择题:下列关于技术测定法的表述中,正确的是()。

题目内容:

下列关于技术测定法的表述中,正确的是()。

A.带有很强的主观性

B.需要工程技术人员参与

C.利用多期历史数据

D.实施成本较低

参考答案:

如果温度升高,半导体中的电离杂质散射概率和晶格振动散射概率的变化分别是()。

如果温度升高,半导体中的电离杂质散射概率和晶格振动散射概率的变化分别是()。这是一个关于概率 晶格 半导体器件原理与仿真设计的相关问题,下面我们来看

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闪锌矿型结构和纤锌矿型结构都是正四面体结构,其中闪锌矿型结构具有六方对称性,纤锌矿型结构具有立方对称性。

闪锌矿型结构和纤锌矿型结构都是正四面体结构,其中闪锌矿型结构具有六方对称性,纤锌矿型结构具有立方对称性。这是一个关于结构 闪锌矿 半导体器件原理与仿真设计的相关问题,下面我们来看

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下列说法中,哪一项不是对PN结空间电荷区充电()。

下列说法中,哪一项不是对PN结空间电荷区充电()。这是一个关于电荷 偏压 半导体器件原理与仿真设计的相关问题,下面我们来看

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为减小BJT集电极延迟时间常数,可通过减小集电极串联电阻和集电极电容。()

为减小BJT集电极延迟时间常数,可通过减小集电极串联电阻和集电极电容。()这是一个关于电阻 集电极 半导体器件原理与仿真设计的相关问题,下面我们来看

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“长安本”《峄山碑》翻刻()的摹本为最佳,碑阴有郑文宝题记,现藏于西安碑林。

“长安本”《峄山碑》翻刻()的摹本为最佳,碑阴有郑文宝题记,现藏于西安碑林。这是一个关于碑阴 摹本 艺术欣赏书法的相关问题,下面我们来看

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