选择题:半导体产品的烤机试验,将产品暴露在高温下,来强制缺陷发生,这种可靠性试验属于()

题目内容:

半导体产品的烤机试验,将产品暴露在高温下,来强制缺陷发生,这种可靠性试验属于()


A. 可靠性测定试验
B. 可靠性鉴定试验
C. 可靠性验收实验
D. 环境应力筛选试验
参考答案:

用来“表示质量特性波动与其潜在原因关系”的图表是()

好大学用来“表示质量特性波动与其潜在原因关系”的图表是()答案及解析。

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